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聚酯薄膜透气性标准膜
【标准物质种类】 气体透过量标准物质: 125μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130541300μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130542
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膜厚仪
面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。
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TEM用氮化硅薄膜窗口 上海昭沅
;网格大小:75μm ,网格间距:25μm;Φ3mm200μm TEM氮化硅薄膜窗口 氮化硅薄膜窗口特点 低应力的8, 15 , 50nm厚的氮化硅支撑膜:50nm厚的薄膜具有zei大的
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125μm聚酯薄膜气体透过量标准膜
【标准物质种类】 气体透过量标准物质: 125μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130541300μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130542
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NanoCalc薄膜反射光谱仪系统
NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量,包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等
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膜厚监测仪
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膜厚监测仪
应用于MBE、OLED热蒸发、磁控溅射等设备的薄膜制备过程中,用于对膜层厚度及镀膜速率进行实时监测。 产品简介:EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理,结合先进的频率测量技术,进行膜厚的
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膜厚测量仪
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Surfix BFN两用基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
两节1.5伏五号碱性电池仪器尺寸 137x66x23mm符合标准 DIN,ISO,ASTM,BS Surfix BFN外置探头两用基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计精度±1μm+1%读数.分辨率0.1
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CM100膜厚仪
技术参数1. 光谱范围:370-1000nm2. 光谱分辨率:1.6nm3. 测量光斑:典型1.5mm4. 最大样片厚度测量范围:15nm- 100μm5. 膜厚测量重复性:0.1nm6.
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